全网最全！TEM软件最新版Digital Micrograph3.5详细安装教程（附安装包），以及使用教程！...

2024-09-20 开源 0

重要提示：

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本篇关键词【DigitalMicrograph3.5】

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为了方便各位更快的找到自己所需要的科研软件，因此我做了一个往期软件目录，点击蓝色字体即可链接对应文章！

名称	主要功能
HighScore3.0.5+	XRD数据分析工具
Thermo Avantage	XPS数据分析工具
MDI Jade 6.5	XRD数据分析
LabSpec	拉曼光谱分析
MestReNova 14‍	核磁共振NMR数据处理
Image J	科研图像处理工具
CasaXPS	XPS数据分析‍
RasMol 2.7.5.2	观察生物分子微观立体结构
Nano Measurer 1.2.5‍	纳米颗粒粒度分析软件
Diamond‍	原子水平晶体结构可视化
Endnote‍	文献管理软件
Origin‍	数据分析工具
3Dsmax	三维建模和渲染软件

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安装教程
使用教程

软件下载

[软件名称]：DigitalMicrograph3.5

[界面语言]：英文

[安装环境]：Win11/Win10/Win8/Win7

[系统位数]：32位&64位

[软件类型]：电镜图像分析软件

[下载链接]：

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软件介绍

DigitalMicrograph是一款专业的电镜图像分析软件，由Gatan公司开发，具有采集图像、处理和分析图像、数据管理等多种功能，是透射电镜（TEM）、扫描电镜（SEM）图片分析和处理的必备软件。

安装教程

注意事项

①解压安装包和软件安装时，关闭杀毒软件，否则安装文件容易被误删除；

②安装软件时，要右击压缩包，把压缩包解压出来，不要直接双击压缩包；

③安装包及软件安装路径，最好是英文或数字，如有中文路径，容易报错；

1. 解压下载好的安装包，打开文件夹后选择gatan license文件夹

2. 双击Licenseinstaller文件，安装注册文件

3. 点击Installe License, 成功后退出

4. 回到主文件夹，双击Setup文件，开始安装主程序

5. 点击Install，继续

6. 点击Next，继续

7. 同意，接受条款，下一步

8. 选择你要安装的路径，C盘空间不多的最好选择其他盘

9. 点击Install（ps，可以看到我们是免费版本）

10. 等待安装

11. 点击完成，就大功告成了

12. 安装完成后，在桌面上可以找到GMS 3的图标，双击打开

13. 这就是新版的界面了，和老版本有很大变化

使用教程

测量晶面间距

通过高分辨率透射电子显微镜（TEM）图像来测量和计算晶体的晶格间距，是掌握DM软件基础功能的关键步骤。利用测量得到的晶格间距，并结合X射线衍射（XRD）的数据，可以有效地确认材料的成分，并对物相的特定晶面进行分析。

具体操作步骤如下：

图片的放大与移动

打开一张高倍率的“.dm3”格式TEM图像（参见图1），对其进行放大，并选择需要测量的区域。

图1 dm3文件的导入

通常，导入的高倍率TEM图像中可以清楚地观察到晶格条纹。但由于拍摄条件如信噪比等因素，有些图像中的晶格条纹可能显得较为模糊。面对这种情况，我们首先应使用放大功能（参见图2中的红框右侧），然后利用手性工具（图2中的红框左侧）将待测区域调整至界面中心。

图2 图片的放大与移动

晶格间距的粗略测量

在确定了待测晶格条纹区域后，在“Standard Tools”菜单下选择线性工具，并在图像中拖动鼠标绘制一条直线。请注意，绘制的直线应尽可能垂直于晶格条纹，以确保测量的准确性。如图3所示，在“Control”工具栏中会显示线条的长度。为了方便计算，通常选择的线条应覆盖10个晶格间距。据此，可以粗略计算出晶格间距大约为0.3014纳米

图3 晶格间距的粗略测量

晶格间距的精准测量

在实际的科研分析中，数据的准确性至关重要，尤其是在测量晶格间距时，微小的误差都可能导致显著的偏差。为了实现更精确的晶格间距测量，科研人员通常遵循以下步骤。

首先，在对图像进行适当的区域放大和选择后，从“Standard Tools”菜单中选择划线工具（参见图4中的红框），并在图像上画一条直线。此时，软件操作界面将显示一个额外的“Profile”窗口。然而，如图4中蓝框所示，该“Profile”窗口内的晶格条纹可能并不清晰。

图4 晶格条纹的选择

为了确保所选晶格条纹的清晰度，从而使测量结果更为准确，您可以双击已绘制的线条，并将线条宽度设置为20，如图5所示。这样的设置有助于更好地捕捉晶格条纹的细节。

图5 设置线条宽度

此时，您将会注意到“Profile”窗口内的晶格条纹变得更加清晰和立体。柱形的高度越接近，测量出的结果也越精确。如图6所示，使用鼠标左键在“Profile”窗口内拖动以创建一个虚线框。随后，系统会显示该框线的长度，这个长度代表所选晶格条纹的总长度。在图中选取的是10个周期的晶格间距，总计约为2.998纳米。据此，可以计算出单个晶格条纹的间距为0.2998纳米。

图6 晶格间距精准计算

选取电子衍射分析

在进行TEM图片的全面分析时，选取电子衍射图（SAED）是不可或缺的一步，因为它能进一步帮助鉴定待测样品的晶体结构和晶相组成，从而显著提高样品分析的准确性和可靠性。

如图7所示，首先遵循前述步骤打开一张典型的SAED图像，并确定其圆心位置。使用“Standard Tools”菜单下的圆心标定工具（图7左侧红框），在图像中找到两个明显的、通过圆心的对称点。使用鼠标左键分别点击这些点（图中绿框标示），随后将显示图7所示的圆心位置。

图7 衍射图圆心的确定

在确定了圆心之后，为了准确测定晶面间距，需要对SAED图上的衍射斑点进行进一步的标定。如图8所示，选择工具栏中的相应工具（红框内），然后使用鼠标左键点击衍射图上那些相对清晰且明显的衍射斑点。为了确保测量结果的准确性，至少应标定三个以上的衍射斑点。标定后放大图像，可以看到所点击的衍射斑点都已经被数字标记（如图8右侧所示）。

图8 衍射斑点的标定

定完成后，要查看相关结果，请在菜单栏中的“Window”选项下选择“Show Results Window”，这样就可以打开“Results”窗口。在此窗口中，主要显示的信息包括距离“d”，误差“R”以及角度“Degree”等参数。您可以清楚地从图中看到所有标定的衍射点与圆心的距离，以及这些点相对于第一个衍射斑点的衍射角（如图9所示）。